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역동적으로 변화하는 기술 세계에서 자동화는 판도를 바꾸는 요소 중 하나입니다. 이전에는 수동적이고 오류가 발생하기 쉬웠던 작업의 효율성과 정확성을 높여 작업 방식에 혁명을 일으켰습니다.
이전에는 수동적이고 오류가 발생하기 쉬웠던 작업의 효율성과 정확성을 높여 작업 방식에 혁신을 일으켰습니다. 그러한 작업 중 하나는 표면의 산란 특성을 측정하는 것인데 이는 광학 및 포토닉스 분야에서 필수적인 작업입니다. 해당 블로그에서는 산란 측정에 자동화를 더하여 사용할 때의 이점을 살펴보고 구성 요소 개체 모델 (COM) 애플리케이션 프로그래밍 인터페이스 (API)가 이러한 자동화를 달성하는 데 어떻게 도움이 되는지 알아보겠습니다.
Why Automate Scattering Measurements?
산란 측정 자동화의 목적과 이유
자동화는 데이터 수집부터 분석까지 전반적인 산란 측정 프로세스가 프로그래밍 방식으로 처리되도록 보장합니다. COM API를 사용하면 파라미터 설정 후 프로세스를 시작한 다음, 시스템이 측정을 처리하는 동안 다른 작업에 집중 할 수 있습니다.
산란 측정을 자동화하면 반복적인 작업을 용이하게 하고 측정을 더 신속하게 수행할 수 있으며 귀사의 조직 및 프로젝트의 요구 사항에 맞게 사용자 정의된 맞춤형 솔루션을 구동할 수 있습니다.
Facilitate Repetitive Tasks
반복적인 작업은 용이하게
산란 측정에는 수많은 반복 작업이 포함됩니다. 이러한 작업을 수동으로 진행할 경우 지루하고 시간이 많이 걸릴 수 있습니다. 또한, 결과의 정확성을 손상시킬 수 있는 오차의 리스크도 증가합니다. COM API를 사용하는 자동화는 이러한 작업을 효율적으로 수행하여 사람의 개입과 오차 가능성을 크게 줄여줍니다. 시간을 절약할 뿐 아니라 산란 측정의 필수 요소인 측정의 일관성도 함께 보장합니다.
Synopsys REFLET 180S의 COM 옵션을 사용하면 가장 일반적으로 사용되는 장비 내 기능을 프로그래밍 스크립트를 통해 자동으로 실행할 수 있습니다. 이는 비직선 축 샘플링으로 수동 측정을 수행해야 할 때 크게 도움이 될 수 있습니다.
예를 들어, 일부 특정 적용 분야에서는 고정된 관찰 위치에 대한 입사각의 산란 의존성이 주요 기준이 될 수 있습니다. 이러한 유형의 측정 스캔은 일반적으로 수동으로 수행됩니다. Command와 API를 사용하면 "for" 루프를 사용하여 반복하는 수동 단계를 자동으로 변환하여 진행할 수 있습니다.
Perform Measurements Faster
측정은 신속하게
오늘날처럼 빠르게 변화하는 세상에서는 매 순간이 중요하며 모두의 시간은 중요합니다. 수동적인 산란 측정은 시간이 오래 걸리지만 COM API를 사용하여 작업을 자동화하면 데이터를 수집하고 분석하는 데에 필요한 시간을 크게 줄일 수 있습니다. 더 짧은 시간에 더 많은 측정을 수행하여 생산성과 효율성을 향상하십시오.
이 자동화의 영향력을 이해하기 위해, 입사면이 주요 매개변수인 이방성 샘플을 측정하는 것을 살펴보십시오. Synopsys REFLET 180S 샘플 홀더에는 눈금이 있고 수동 회전 기능이 있어 빛을 다양한 면에 입사하여 샘플을 측정하여 이방성 특성을 가진 샘플에서 발생하는 빛으로 인한 산란을 완벽히 포착할 수 있습니다. Synopsys REFLET 180S의 COM API 옵션은 이 회전을 자동화할 수 있습니다. 전동식 회전 스테이지와 함께 사용하면 추가로 사람의 개입없이 시료에 필요한 모든 입사면을 자동화된 방식으로 특성화 할 수 있습니다.
Drive Custom Solutions
맞춤형 솔루션 구동
일률적인 접근 방식은 특정 니즈와 어려운 과제가 있는 조직과 프로젝트에 적합한 솔루션이 아닙니다. COM API는 맞춤형 자동화 솔루션을 개발 및 배포하여 특정 니즈와 요구사항을 충족하고 최적의 리소스 사용을 보장합니다. 이러한 유연성 덕분에 CMO API는 산란 측정에 유용한 도구가 되었습니다.
Automating the Synopsys REFLET 180S
Synopsys REFLET 180S 장비 자동화
COM API와 통합된 Synopsys REFLET 180S는 고속 데이터 수집 및 분석을 통해 빠르고 정확한 결과를 제공합니다. 자동화 기능을 통해 중요한 작업을 효율적으로 수행하고 고객이 특정 요구 사항과 니즈를 충족하도록 시스템을 프로그래밍 할 수 있습니다. 이러한 수준의 사용자 맞춤 덕분에 Synopsys REFLET 180S는 산란 측정의 다목적 툴로 활용되기도 합니다.
예를 들어, 이를 시연하기 위해, Synopsys REFLET 180S에 대한 피드백 루프를 자동화하고 추가하여 샘플의 기울기와 높이를 조정하는 것을 생각해보십시오. 측정 전 특성화된 표면이 각도를 측정하는 고니오미터 내에서 수평이고 중앙에 위치하고 있는지 확인해야 합니다. 이를 위해 밀리미터 나사를 사용하여 샘플 수평성을 조정하고 반사 구성을 위해 수집된 신호를 최대화합니다. 광원과 검출기는 샘플 표면 법선과 반대 각도를 갖는 동일한 평면 내에 위치하고 있습니다. 이 수동 작업은 정확한 측정 결과를 위해 중요한 작업입니다. 피드백 루프에서 전동 고니오미터를 추가하고 COM API를 사용하면 샘플 조정 시 설정 정확도가 높아집니다.
Thoughts about Automating the Synopsys Mini-Diff V2
Synopsys Mini-Diff V2 자동화로 인한 편의성 향상
Synopsys Mini-Diff V2는 현재 COM API를 지원하지 않습니다. 그러나 장비에 Add-on 으로 기능을 추가하면 데이터 수집부터 분석까지 전체 산란 측정 프로세스를 자동화 할 수 있습니다. 이렇게 하면 시간이 절약되고 정확하고 일관된 결과를 유지할 수 있습니다. 고유한 특정 요구사항에 맞게 시스템을 맞춤화하여 가지고 있는 자원들을 효율적으로 사용하고 결과를 최적화 할 수 있습니다.
생산 라인에서 Synopsys Mini-Diff V2 휴대용 장비를 사용하여 수동으로 진행했던 측정을 이제는 전동 로봇 암에 장비를 추가하고 COM API를 통해 측정을 자동화할 수 있습니다. 이렇게 수집된 데이터는 표면 품질을 확인하고 작업자의 개입없이 자동으로 분류 기능을 제공하는 데 사용될 수 있습니다.
측정을 위한 자동화는 아래와 같은 조건으로 진행됩니다.
- In situ
- Periodic
Conclusion
결론
정교함과 속도가 가장 중요하게 고려되는 광학 및 포토닉스 분야에서 COM API를 사용하여 산란 측정을 자동화하면 상당한 이점을 얻을 수 있습니다. Synopsys REFLET 180S 및 Synopsys Mini-Diff V2의 예시를 살펴보면 이 기술과 자동화를 통해 얻을 수 있는 이점을 확인할 수 있습니다.
