QuickCap NX

高精度 3D 寄生参数场求解器

QuickCap NX 是基于高度准确的 3D 场求解器的金牌提取参照工具，非常适合用于 14nm FinFET 及更高制程的高级工艺技术。采用嵌入式 3D 器件显示仪，是开展工艺探索的理想工具。QuickCap NX 服务的重要应用领域包括高精度提取、规则型提取器的参照工具、标准单元表征、存储单元表征和 PDK 质量改善。

产品亮点

• 场求解器解决方案可适用于早期工艺技术节点探索以及寄生参数建模开发
• 先进的随机游走算法提供对测试结构和关键网络的自电容、耦合电容和分布式电容的提取
• 支持对复杂几何图形和工艺效应的详细工艺建模，以精确分析 14 nm 及以下器件和互连的寄生参数
• 可供晶圆代工厂基于独特而详细的硅材料数据图表进行高精度的 3D FinFET 建模
  
• 3D 图形查看器使得设计人员可查看正在建模的确切的工艺数据图表
• 多核处理、分区块处理、区域性网线和层次化提取加快了运行速度，从而提高了设计人员的生产率
• 可扩展以支持库表征
  
• 芯片设计公司的理想提取参照工具